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LBTA款涂层测厚仪主要用途:
本仪器采用了磁性和涡流测厚方法,可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。
LBTA款涂层测厚仪技术参数:
测量范围 | 0-1250mm |
测量精度 | ±3%H±1.5um |
显示精度 | 0~99.99um:0.1um 100um以上:1um |
zui小基体 | 10X10mm |
zui小曲率 | 凸:5mm 凹:25mm |
zui薄基体 | 0.5mm |
环境温度 | 0℃~40℃相对湿度:不过85% |
电源 | DC9VX1 |
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涂层测厚仪主要用途:
本仪器采用了磁性和涡流测厚方法,可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。
涂层测厚仪采用了磁性和涡流测厚方法,可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。
涂层测厚仪采用了磁性和涡流测厚方法,可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 。
涂层测厚仪技术参数:
测量范围 | 0-1250mm |
测量精度 | ±3%H±1.5um |
显示精度 | 0~99.99um:0.1um 100um以上:1um |
zui小基体 | 10X10mm |
zui小曲率 | 凸:5mm 凹:25mm |
zui薄基体 | 0.5mm |
环境温度 | 0℃~40℃相对湿度:不过85% |
电源 | DC9VX1 |
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